A technique for positioning nano-particles using an atomic force microscope

L. Theil Hansen, A. Kühle, A.H. Sørensen, J. Bohr, P.E. Lindelof

    118 Citationer (Scopus)
    OriginalsprogEngelsk
    TidsskriftNanotechnology
    Udgave nummer9
    Sider (fra-til)337
    ISSN0957-4484
    StatusUdgivet - 1998

    Citationsformater