Spring til hovednavigation
Spring til søgning
Spring til hovedindhold
Københavns Universitets forskningsportal Forside
Hjælp og OSS
Dansk
English
Forside
Profiler
Publikation
Forskningsenheder
Presse/medier
Aktiviteter
Priser
???studenttheses???
Forskningsdatasæt
Søg efter ekspertise, navn eller tilknytning
Graev metrics on free products and HNN extensions
Konstantin Slutsky
Institut for Matematiske Fag
3
Citationer (Scopus)
Oversigt
Fingeraftryk
Fingeraftryk
Dyk ned i forskningsemnerne om 'Graev metrics on free products and HNN extensions'. Sammen danner de et unikt fingeraftryk.
Sorter
Vægt
Alfabetisk
Matematik
HNN Extension
100%
Free Product
83%
Invariant Metric
83%
Free Product with Amalgamation
56%
Metric
47%
Free Group
35%
Metric space
29%