A high-pressure x-ray diffraction study of UAs*U0*U.*U6*USe*U0*U.*U4

L. Gerward, Janus Staun Olsen, U. Benedict, H. Luo

OriginalsprogEngelsk
TidsskriftMaterials Science Forum
Udgave nummerVols 79-82
Sider (fra-til)643-646
ISSN0255-5476
StatusUdgivet - 1991

Citationsformater