Spring til hovednavigation
Spring til søgning
Spring til hovedindhold
Københavns Universitets forskningsportal Forside
Hjælp og OSS
Dansk
English
Forside
Profiler
Publikation
Forskningsenheder
Presse/medier
Aktiviteter
Priser
???studenttheses???
Forskningsdatasæt
Søg efter ekspertise, navn eller tilknytning
Hans Jacob Teglbjærg Stephensen
https://orcid.org/0000-0001-8245-0571
2019
2019
Publikationer pr. år
Vis
Fingeraftryk
Netværk
Publikation
(1)
Lignende profiler
(2)
Fingeraftryk
Dyk ned i forskningsemnerne, hvor Hans Jacob Teglbjærg Stephensen er aktive. Disse emneetiketter kommer fra dennes persons arbejder. Sammen danner de et unikt fingerprint.
Sorter
Vægt
Alfabetisk
Keyphrases
Model-based Registration
100%
Highly Accurate
100%
Registration Method
100%
Scanning Electron Microscope Image
100%
Accurate Model
100%
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscopy (FIB-SEM)
100%
Correction Strategy
33%
Multiple Sections
33%
Electron Microscopy Images
33%
Correction Method
33%
Ultrastructure
33%
Scanning Electron Microscope Imaging
33%
Two Dimensional
33%
Geometric Structure
33%
Distance Measure
33%
Popular
33%
Nanometre
33%
Biological Structures
33%
Image Registration
33%
Sub-pixel
33%
Engineering
Scanning Electron Microscope
100%
Focused Ion Beam
100%
Registration Method
100%
Nanometre
33%
Similarity
33%
Two Dimensional
33%
